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半導體可靠性測試總結與標準
根據(jù) JED22-A104 標準,溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受極端高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時,將部件反復暴露于這些條件下經(jīng)過預定的循環(huán)次數(shù)。根據(jù) JESD22-A110 標準,THB 和 BHAST 讓器件經(jīng)受高溫高濕條件,同時處于偏壓之下,其目標是讓器件加速腐蝕。THB 和 BHAST 用途相同,但 BHAST 條件和測試過程讓可靠性團隊的測試速度比 THB 快得多。
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塑件封裝器件可靠性試驗流程
隨著塑封器件高可靠性應用日益廣泛,塑封產(chǎn)品的研制和生產(chǎn)需求不斷增加,分析了塑封器件可能存在的熱機械缺陷、腐蝕、爆米花效應、以及生產(chǎn)工藝中可能引入的封裝、芯片粘接、純化層程等缺陷,從設計和工藝角度給出控制措施。介紹了國內(nèi)外高可靠性塑封器件篩選、鑒定檢驗的典型流程及質量控制措施,用于在生產(chǎn)階段剔除潛在缺陷的不合格品,保證產(chǎn)品具有高可靠性。 高可靠性塑封器件質控措施 ……
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低氣壓試驗國家標準
國際標準分類中,低氣壓試驗涉及到環(huán)境試驗、光學設備、試驗條件和規(guī)程綜合、半導體分立器件、貨物的包裝和調(diào)運綜合、電工和電子試驗、光學和光學測量、電子電信設備用機電元件、流體存儲裝置、電氣工程綜合、電工器件、航空航天用電氣設備和系統(tǒng)、機上設備和儀器、光纖通信、電子元器件綜合、采礦設備、水果、蔬菜及其制品、電學、磁學、電和磁的測量。
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汽車車載電子可靠性試驗標準及相關可靠性試驗設備
目前汽車電子產(chǎn)品主要分以下三類:高低溫冷熱沖擊試驗箱(a)、電子元器件。包括GPS、音箱、汽車DVD、倒車雷達、控制器、運算放大器、切換式電源供應器、各類微處理器、計算機等。(b)、繼電器及電機馬達。包括各類繼電器、雨刮器電機、電動天線、空調(diào)電機、暖風電機、電動坐椅、前后視鏡電機、中央控制門鎖、交流發(fā)電機、清洗泵電機等。(c)、各類傳感器。其中傳感器和繼電器的發(fā)展*為活躍。它是汽車上應用*多的兩類汽車電子設備。
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晶體硅太陽能熱循環(huán)濕冷凍試驗箱
瑞凱儀器熱循環(huán)濕冷凍試驗箱已為多家大型太陽能電池板組件企業(yè),研發(fā)實驗室及副品供應商采用??勺鎏柲芄夥M件、電池片、光伏產(chǎn)品的高低溫循環(huán)、濕凍、濕熱(雙85)試驗。是主要用與光伏行業(yè),及太陽能行業(yè)的測試設備,用于測試光伏組件,主要是單晶硅組件,地面用晶體硅光伏組件,地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進行試驗可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞。
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近日,瑞凱儀器連續(xù)接到大型高溫老化房的定制項目,四臺R-PCK-268800非標大型高溫老化房經(jīng)過設計、組裝和調(diào)試,達到客戶滿意的標準。于昨日完成打包工作,今日正式出庫。 【更多詳情】
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