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電子元器件可靠性試驗(yàn)一般流程

文章出處:   責(zé)任編輯:瑞凱儀器   發(fā)布時(shí)間:2020-08-22 14:27:00    點(diǎn)擊數(shù):-   【

隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備越來越復(fù)雜,其可靠性驗(yàn)證問題越來越突出,復(fù)雜電子設(shè)備的MTBF高達(dá)2 000~5 000 h,最高可達(dá)到50000h。傳統(tǒng)的環(huán)境模擬試驗(yàn)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)代電子設(shè)備發(fā)展的要求,對(duì)高可靠性電子設(shè)備如何驗(yàn)證和評(píng)價(jià)已經(jīng)成為急待解決的問題,而可靠性加速試驗(yàn)正是解決這一-突出矛盾的根本方法,解決了常規(guī)可靠性工程試驗(yàn)周期比較長(zhǎng),消耗比較大的問題。目前,加速可靠性試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域的研究非常活躍,是電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)領(lǐng)域的重要研究方向。

電子高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

電子可靠性試驗(yàn)?zāi)壳皯?yīng)用設(shè)備多為PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)和HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),兩者之間的區(qū)別是濕度區(qū)別,HAST濕度范圍是65%~100%R.H(濕度可調(diào)),PCT濕度范圍是100%R.H(飽和蒸汽),目前國(guó)內(nèi)真正高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)廠家并不是很多,瑞凱儀器是國(guó)內(nèi)比較先進(jìn)的高加速老化廠家之一,成立早年就已經(jīng)開始研發(fā)生產(chǎn)加速老化設(shè)備,目前為此,已為多國(guó)內(nèi)知名電子廠家提供高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)解決方案。

電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)箱流程:

可靠性加速試驗(yàn)一般流程圖

可靠性加速試驗(yàn)要求各專業(yè)人員要協(xié)同作業(yè)??煽啃约铀僭囼?yàn)是在試驗(yàn)中施加應(yīng)力,并連續(xù)進(jìn)行檢測(cè)以找出故障,進(jìn)行故障定位,并對(duì)缺陷進(jìn).行分析和采。改進(jìn)措施,試驗(yàn)過程中設(shè)備設(shè)計(jì)人員、試驗(yàn)人員、故障分析人員和管理人員要聯(lián)合協(xié)同作業(yè),技術(shù)人員和管理人員之間必須密切配合,才能使試驗(yàn)高效進(jìn)行。

在試驗(yàn)過程中,要記錄各類數(shù)據(jù)和信息,并將得到的信息和經(jīng)驗(yàn)納人數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行管理并共享信息。試驗(yàn)數(shù)據(jù)信息對(duì)開展試驗(yàn)分析、以及同類設(shè)備研制可以起到借鑒作用。當(dāng)再次發(fā)生同類故障時(shí),或開展其他設(shè)備研制時(shí),可從數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取寶貴的數(shù)據(jù)。


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