-
總結(jié)-中國(guó)可靠性環(huán)境試驗(yàn)(測(cè)試)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)大綱
通常環(huán)境可靠性試驗(yàn)分為以下三類:力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)、氣候環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)。力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)主要包括機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊、跌落、碰撞、穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)等,氣候環(huán)境試驗(yàn)主要包括溫度試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、水試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、砂塵試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)等,綜合環(huán)境試驗(yàn)主要包括溫度氣壓綜合試驗(yàn)、溫度振動(dòng)綜合試驗(yàn)、溫度濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)、溫度氣壓濕度綜合試驗(yàn)等。
-
是什么影響高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱溫度均勻性
在高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)中,如果溫度均勻性超過(guò)允許偏差范圍,則試驗(yàn)獲得的數(shù)據(jù)不可靠,試驗(yàn)數(shù)據(jù)不能作為材料或產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)的極限耐久性。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是溫濕度環(huán)境試驗(yàn)的主要設(shè)備。主要進(jìn)行高、低溫、濕度測(cè)試,評(píng)估產(chǎn)品的耐溫濕性能,以確保我們的產(chǎn)品在任何環(huán)境條件下都能正常運(yùn)行。
-
IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析
該產(chǎn)品的高溫失效問(wèn)題,與COB各材料都有著密切的關(guān)系: PCB、IC、邦定線、黑膠。但最主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下,由于黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹系數(shù)(CTE),在高溫條件下,黑膠可能拉動(dòng)邦定線,導(dǎo)致接觸不良使得IC功能喪失。
-
半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電力半導(dǎo)體器件、部件。國(guó)際電工委員會(huì),關(guān)于半導(dǎo)體 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)
-
LED燈溫度循環(huán)試驗(yàn)測(cè)試方法
溫度循環(huán)試驗(yàn)應(yīng)按照 GB/T 2423.22-2012 的試驗(yàn) Nb: “規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定 進(jìn)行。 試驗(yàn)應(yīng)在滿足 GB/T 2424.5—2006 要求的試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行。試驗(yàn)溫度見表 1,溫度容差為士2 K。
熱門產(chǎn)品 / Hot Products
推薦資訊 / Recommended News
大型高溫老化房驗(yàn)收完成,出貨!
-
大型高溫老化房驗(yàn)收完成,出貨!
近日,瑞凱儀器連續(xù)接到大型高溫老化房的定制項(xiàng)目,四臺(tái)R-PCK-268800非標(biāo)大型高溫老化房經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)、組裝和調(diào)試,達(dá)到客戶滿意的標(biāo)準(zhǔn)。于昨日完成打包工作,今日正式出庫(kù)。 【更多詳情】
- 2020-10-28 東莞恒溫恒濕箱廠家-為你按需定制產(chǎn)品
- 2020-09-05 塑件封裝器件可靠性試驗(yàn)流程
- 2020-10-26 高低溫濕熱試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)改良,只為制造更符合您要求!
- 2020-09-25 半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱
- 2020-09-23 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱直接使用自來(lái)水會(huì)有什么影響
- 2020-06-11 關(guān)于盜用我司公司名、品牌名進(jìn)行誤導(dǎo)性宣傳的鄭重聲明
- 2020-06-12 IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析
- 2020-09-07 瑞凱新款可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱與老款恒溫恒濕試驗(yàn)箱區(qū)別
- 2020-08-15 是什么影響高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱溫度均勻性
- 2020-10-30 如何保證低氣壓試驗(yàn)箱穿線處用密封不漏氣?
- 2020-11-02 IC芯片行業(yè)中溫度沖擊試驗(yàn)箱的介紹
- 2020-09-03 晶體硅太陽(yáng)能熱循環(huán)濕冷凍試驗(yàn)箱
- 2020-08-28 5G電子高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- 2020-09-19 通達(dá)集團(tuán)控股有限公司深圳分公司向瑞凱儀器采購(gòu)HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
- 2020-09-11 集成電路高溫老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
- 2020-09-16 可程式高低溫試驗(yàn)箱中的“可程式”是什么意思